日本精工電子有限公司(Seiko Instruments Inc.簡稱SII),于1978年良好于其他廠商,研究開發出日本**臺熒光X射線鍍層厚度測量儀-SFT155。經過二十多年的努力,現在的熒光X射線鍍層厚度測量儀能夠準確地測量微小面積的鍍層厚度。現已為全世界電子零部件、印刷電路板、汽車零部件等相關廠商提供了5000臺以上的測量儀,深受用戶的依賴與**。從此,“SFT”幾乎成為鍍層厚度測量儀的代名詞。 隨著市場競爭的愈加激烈及產品較新換代的加快,客戶需求也日新月異。為了迎接新世紀的挑戰,本公司在SFT9000系列的基礎上又推出較**的SEA5000系列儀器,較加充實了熒光X射線鍍層厚度測量儀的應用領域